XPS dernière génération, pour aller encore plus loin dans l'analyse de surface et interface

L’AXIS Nova de Kratos a rejoint le parc analytique, déjà bien fourni, de TESCAN ANALYTICS.

Ce nouvel XPS permet l’étude de la composition élémentaire et chimique de la surface et interface sur une profondeur de 3 à 10 nm (en mode profil, jusqu'au micron). 

Cette analyse, non destructive, s’adapte à tous matériaux compatibles ultra-haut vide : isolants, organiques, polymères, poudres, métaux, verres, échantillons biologiques…

Notre XPS de dernière génération est capable d’atteindre une sensibilité élevée (quelques dixièmes de % atomique) sur des petites zones d’analyse (quelques dizaines de µm²), avec une excellente résolution énergétique (0,45 eV) et spatiale (2 - 3 µm), répondant aux besoins analytiques des applications les plus exigeantes. 

De plus, avec son canon clusters d’argon, notre nouvel XPS peut abraser en profondeur et en douceur les couches enfouies des matériaux organiques sans en modifier la chimie (seul AXIS Nova à posséder cette configuration en France). Cette technologie permet également de nettoyer les potentielles contaminations en surface des échantillons sans endommager les informations chimiques. 

Ce nouvel équipement disposant de performances exceptionnelles associé à notre expérience de près de 30 ans élargit les perspectives et les applications.

L’AXIS Nova dispose également de caméras orthogonales pour un positionnement très précis des échantillons ainsi que d’un logiciel puissant d’acquisition et de retraitement de données parfaitement adapté à une approche statistique d'échantillonnage (mode grille).
Un deuxième canon d’abrasion monoatomique complète le tout. Les deux canons d’abrasion peuvent opérés alternativement avec la rotation ZALAR améliorant notablement la résolution en profondeur.