Du développement de nouveaux produits, au contrôle qualité du matériau final en passant par les analyses de défaillance, la microscopie électronique à balayage (MEB) fournit des informations précieuses sur les céramiques. Le MEB peut-être utilisé en combinaison avec le mode de décélération du faisceau (BDM) afin d'obtenir une imagerie à haute résolution de la microstructure, avec des électrons primaires d'ultra basses énergies.
Image 2 : Image SEM de microparticules d'oxyde de silicium