LIEU

FUVEAU (AIX-EN-PROVENCE, FRANCE)

DATES

15 au 16 juin 2023

THEMATIQUES

Nanomatériaux / Adhésion / Couches minces & multicouches / Traitements de surface / Contamination / Innovation en méthode d'analyses...

PRESENTATION

Expert’Labs vous invite à son 4e Workshop, qui réunira une fois encore les principaux acteurs de l’industrie et de la recherche autour des thématiques liées aux Surfaces et Interfaces dans les Matériaux (SIM IV). Deux jours de conférences qui permettront d'échanger entre industriels, académiques et fournisseurs de solutions d’expertise.

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Programme scientifique du Workshop SIM IV

JEUDI 15 JUIN 2023

Horaire	Présentation
	SESSION FORMATION
08h30	Accueil des participants (inscrits à la formation)
09h00	Formation (pour les participants inscrits) Découverte des techniques de caractérisations physicochimiques des surfaces et interfaces (AFM, FIB, PO3D, SEM, TEM, TOF-SIMS, XPS)
10h30	Pause café
11h00	Formation (pour les participants inscrits) Découverte des techniques de caractérisations physicochimiques des surfaces et interfaces (AFM, FIB, PO3D, SEM, TEM, TOF-SIMS, XPS)
12h30	Pause déjeuner
13h30	Introduction de bienvenue
	SESSION 1 : Défis analytiques
13h45	SIMS et couplage LC(HR)/MS, outils complémentaires à l'analyse de produits de dégradation dans des produits cosmétiques solides G. Provot, A. Cosette, E. Juliana, L. Gireaud* L'OREAL
14h10	Développement d’un capteur OEM pour la détection en temps réel de particules biologiques dans l’air L. Debard, A. Dumas* TERA ENVIRONNEMENT
14h35	NanoMesureFrance : un point d’entrée unique pour structurer la filière industrielle des nanomatériaux autour de données fiabilisées FX. Ouf, G. Favre* LNE
15h00	Design of an integrated, precession-assisted, analytical 4D-STEM D. Barresi TESCAN
15h25	Pause café
	SESSION 2 : Couches minces
15h45	Optimisation de la distance de masquage par une caractérisation fine du débord de dépôt B. Letourneur, A. Garnier* SAFRAN
16h10	Caractérisation des surfaces et des interfaces de cellules solaires en couches minces C. Chappaz, O. Gagliano* GARMIN
16h35	Dépôts multicouches déposés par plasma sur substrats polymères et PCB : caractérisations physico-chimiques et fonctionnelles (adhésion, release, anti-corrosion) J. Jellid, N. VandenCasteele, J. Viard, E. Gat, J. Vallade, S. Van Marcke* CPI
17h00	Assemblage et lamination de cartes bancaires : optimisation de l’adhésion aux interfaces des couches et amélioration du visuel B. Baudouin SPS INGROUPE
17h25	Analyses de couches métalliques sur un micro-chip B. Bortolotti, A. Garnier* ST MICROELECTRONICS
17h50	Fin de la 1ère journée
18h30	Dîner surprise à la BASTIDE DE FAVE

VENDREDI 16 JUIN 2023

Horaire	Présentation
	SESSION 3 : Innovation équipement
08h30	Ouverture de la 2^ème journée
08h35	Caractérisation simultanée des propriétés mécaniques et chimiques de composants métalliques par microscopie micro-onde M. Garnier, E. Lesniewska, ...* LICB
09h00	New Generation TESCAN CLARA UHR SEM for quick, accurate and comprehensive nanoscale surface analysis of any material D. Barresi TESCAN
09h25	Caractérisation de surface du micro au nano : quelles techniques selon la problématique ? M. Febvre BRUKER
09h50	How to identify the optimal plasma treatment length for different surfaces V. Schloupt DATAPHYSICS
10h15	Pause café
10h35	Advances in automated XPS analysis – from data to answers C. Blomfield, S. Hutton, AJ. Roberts, C. Moffitt, JDP. Counsell, SJ. Coults, K. Good, K. Macak* KRATOS
11h00	Recent developments and applications of TOF-SIMS and LEIS for surface analysis M. Kleine-Boymann, T. Therhorst* IONTOF
11h25	Résultats d’essais thermiques et thermomécaniques : observation en MEB in-situ A. Candeias NEWTEC
11h50	Préparation de lames minces pour MET et nettoyage Post FIB basse tension avec le PIPS L. Legras AMETEK
12h15	New dimensions to micro-CT imaging for industrial applications J. Dewanckele, B. Desmet* XRE
12h40	Buffet déjeunatoire & échange avec fabricants
	SESSION 4 : Contamination
14h00	Analyse multi-échelle d'une anomalie en surface d'une pièce métallique après usinage T. Caparros AIRBUS HELICOPTERS
14h25	USE CASE WITH NANOSPACE: How an analytical FIB-SEM-SIMS tool helps to understand contaminations on a wafer surface J. Silvent ORSAY PHYSICS
14h50	Une multiplicité d’agents de nettoyage, comment s’assurer d’un état de propreté conforme ? L. Panaiva POLYMEX
15h15	Conclusion
15h30	Fin du Workshop

LIEU

DATES

THEMATIQUES

PRESENTATION

JEUDI 15 JUIN 2023

10h30

11h00

12h30

13h30

13h45

14h10

VENDREDI 16 JUIN 2023

09h25

09h50

10h15

10h35

11h00

11h25

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