L'XPS est un outil très puissant, utilisé pour l'Analyse de la Chimie de Surface (composition élémentaire quantitative et environnement chimique sur les 2 à 10 premiers nanomètres de la surface), pour l'Imagerie Chimique (résolution latérale 3µm), et pour le Profilage Chimique élémentaire quantitatif (jusqu'à 1µm en profondeur, résolution en z 3 nm). Echantillons analysés : tous les matériaux compatibles avec l'UHV Isolants (compensation de charge), polymères, produits organiques, échantillons biologiques, poudres, verres, semiconducteurs, métaux, alliages