FR
English
France
Toggle navigation
Applications
Vos Matériaux
Vos Thématiques
Votre Secteur d'Activité
Analyse de Surface
Techniques
XPS / ESCA
ToF-SIMS
AFM
MET STEM EDX EELS
MEB EDX EBSD
FIB MEB Ga ou Xe
Profilométrie Optique
Mouillabilité, énergie de surface
Perméabilité (O2, H2O)
Equipements
XPS
ToF-SIMS
AFM
TEM
MEB
FIB MEB
Profilomètre optique
Ultra Microtomie
Formation
R&D
Projets Collaboratifs
Développements
Partenaires
Communications
A propos
Nouvelles
Evénements
Demande de Devis
Contact
Tescan
/
Analyse de Surface
/
Equipements
/
Profilomètre optique
SENSOFAR - PluNEOX
La Profilométrie Optique est utilisée pour obtenir des images topographiques en XYZ de la surface d'un échantillon (structure, les paramètres dimensionnels, rugosité).
Echantillons analysés :
tous types de matériaux solides
Aire analysée : 100x100 µm² to a few mm²
Résolution verticale (z) : 0.1 nm
Résolution latérale (XY) : 200 nm
Déplacement vertical maximal pendant la mesure : 5 µm
Mesures à l'air