FIB MEB

La microscopie électronique à balayage à faisceau d'ions focalisé (FIB-SEM) est devenue un outil essentiel pour la science et l'ingénierie des matériaux. TESCAN propose une gamme étendue de systèmes clés en main, conçus pour aider les scientifiques et les chercheurs en science des matériaux à progresser et à atteindre leurs objectifs. La large gamme d'instruments dédiés et innovants de TESCAN fait partie de notre engagement ferme à faire avancer la science des matériaux.
 

TESCAN - SOLARIS X 

Canon à électrons Schottky à haute émission
 

FIB Plasma Xe

  • Section transversale de grande surface sans effet de rideau pour l'analyse physique et l'analyse de défaillances des technologies de packaging avancées.
  • Préparez des coupes transversales FIB de grande surface jusqu'à 1 mm de large.
  • Obtention d'une image à faible bruit et haute résolution à faible keV en un temps d'acquisition court lors de la coïncidence FIB-SEM avec l'échantillon incliné.
  • Surveillance SEM en direct pendant l'usinage FIB pour une finition précise.
  • Observez les matériaux les plus sensibles aux faisceaux en utilisant une ultra-haute résolution à faible keVs pour la sensibilité de surface et le contraste élevé des matériaux.
  • Techniques et recettes efficaces pour une section transversale rapide et sans artefact d'échantillons composites (écrans OLED et TFT, dispositifs MEMS, diélectriques d'isolation) à des courants élevés.
  • Interface utilisateur modulaire facile à utiliser Essence™
TESCAN SOLARIS
 

TESCAN - AMBER 

Canon à électrons Schottky à haute émission
 

FIB Ga

  • Préparation de micro-échantillons de haute précision
  • Imagerie SEM sans champ à ultra-haute résolution et nano-analyse
  • Champ de vision étendu et navigation facile
  • Automatisation des processus multi-sites
  • Tomographie FIB-SEM multimodale
  • Interface logicielle modulaire facile à utiliser
  • Packs optionnels attrayants pour diverses applications