Microscope à Force Atomique (AFM) 

L'AFM est utilisé pour obtenir des informations sur la topographie d'un échantillon, sa rugosité, avec une résolution nanométrique en x, y, z. Cette technique, basée sur un contact mécanique entre une pointe de dimensions nanométriques et un échantillon, permet également d'obtenir des informations sur les propriétés mécaniques, adhésives, électriques ou magnétiques de la surface. 

Echantillons analysés : tous les matériaux solides ou semi solides (polymères, poudres, métaux, verres, échantillons biologiques, textiles, fibres, nanopartcules)
 

BRUKER - Dimension ICON

  • Aire d'analyse XY 100x100 nm² to 90x90 µm² , Z max 7 µm 
  • Résolution d'imagerie : X, Y, Z < nm
  • Environment : air, liquide
  • Echantillons larges / hauts, stage de 200 mm de diamètre
  • Programmation et repositionnement du Stage
  • Modes : Contact, Tapping (Phase contrast), Electric (SCM, SSRM, TUNA), Peak Force, QNM, Force Measurements
  • Module de traction sous AFM
  • Dimensions maximales des échantillons : Ø 300 mm, thickness 60 mm
bruker.png

BRUKER - NV-MM8

  • Aire d'analyse : XY 1 nm² à 170x170 µm² , Z max 5 µm 
  • Résolution d'imagerie : X, Y, Z < nm
  • Environment : air ou liquide
  • Modes : Contact, Tapping (Phase contrast), Peak Force, QNM, Force Measurements
  • Dimensions maximales des échantillons : Ø 10 mm, thickness 7 mm





AFM-NV.jpg