FR
English
France
Toggle navigation
Applications
Vos Thématiques
Vos Matériaux
Votre Secteur d'Activité
Aérospatial
Automobile
Microélectronique
Pharmaceutique
Plasturgie/Polymères
Analyse de Surface
Techniques
XPS / ESCA
ToF-SIMS
AFM
MET STEM EDX EELS
MEB EDX EBSD
FIB MEB Ga ou Xe
Profilométrie Optique
Mouillabilité, énergie de surface
Perméabilité (O2, H2O)
Equipements
XPS
XPS
ToF-SIMS
AFM
TEM
MEB
FIB MEB
Profilomètre optique
Ultra Microtomie
Formation
R&D
Projets Collaboratifs
Développements
Partenaires
Communications
A propos
Nouvelles
Evénements
Demande de Devis
Contact
Tescan
/
Analyse de Surface
/
Equipements
/
AFM
Microscope à Force Atomique (AFM)
L'AFM est utilisé pour obtenir des informations sur la topographie d'un échantillon, sa rugosité, avec une résolution nanométrique en x, y, z. Cette technique, basée sur un contact mécanique entre une pointe de dimensions nanométriques et un échantillon, permet également d'obtenir des informations sur les propriétés mécaniques, adhésives, électriques ou magnétiques de la surface.
Echantillons analysés :
tous les matériaux solides ou semi solides (polymères, poudres, métaux, verres, échantillons biologiques, textiles, fibres, nanopartcules)
BRUKER - Dimension ICON
Aire d'analyse
XY
100x100 nm² to 90x90 µm² ,
Z
max 7 µm
Résolution d'imagerie :
X, Y, Z < nm
Environment : air, liquide
Echantillons larges / hauts, stage de 200 mm de diamètre
Programmation et repositionnement du Stage
Modes :
Contact
,
Tapping
(Phase contrast),
Electric
(SCM, SSRM, TUNA),
Peak Force
,
QNM
,
Force Measurements
Module de traction sous AFM
Dimensions maximales des échantillons : Ø 300 mm, thickness 60 mm
BRUKER - NV-MM8
Aire d'analyse :
XY
1 nm² à 170x170 µm² ,
Z
max 5 µm
Résolution d'imagerie :
X, Y, Z < nm
Environment : air ou liquide
Modes :
Contact
,
Tapping
(Phase contrast),
Peak Force
,
QNM
,
Force Measurements
Dimensions maximales des échantillons : Ø 10 mm, thickness 7 mm