WEBINAR en replay - Applications Plasma FIB SEM (Xe)

juin/11/2020
Ce webinaire a été réalisé le mardi 9 juin 2020 à 10h00, sur le thème de l’apport de la dernière génération des MEB-FIB Plasma TESCAN pour la caractérisation des matériaux à différentes échelles. Il est présenté par Jérémie SILVENT , Ingénieur d’application TESCAN FRANCE.

https://bit.ly/3f8v2AL
TESCAN est un pionnier de la technologie FIB plasma Xenon, qui permet l’usinage par faisceaux d’ions à grande échelle sur des dimensions de sections transversales (cross-section) allant jusqu’à 1mm, ainsi que les opérations de routine pour la préparation des échantillons.
La FIB plasma Xe a l’avantage de préserver la structure de l'échantillon lors de la gravure, et la nature inerte des ions xénon permet une préparation sans contamination. Ces arguments font du FIB plasma Xe le candidat idéal pour l'étude des matériaux sensibles comme l'aluminium ou Batteries Li-ion, sans risque de modification des propriétés microstructurales ou mécaniques.
Le FIB Plasma couplé aux accessoires de microanalyse intégrés tels que l’EDS et l’EBSD, les techniques RAMAN et TOFSIMS, sera l’outil fondamental pour caractériser vos matériaux à différentes échelles sous différentes approches.


TESCAN Global Marketing

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Applications FIB SEM
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