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WEBINAR en replay - Applications Plasma FIB SEM (Xe)
WEBINAR en replay - Applications Plasma FIB SEM (Xe)
juin/11/2022
Découvrez notre webinaire sur le thème de l’apport de la dernière génération des
MEB-FIB Plasma TESCAN
pour la caractérisation des matériaux à différentes échelles. Il est présenté par
Jérémie SILVENT
, Ingénieur d’application TESCAN FRANCE.
https://bit.ly/3f8v2AL
TESCAN
est un pionnier de la technologie
FIB plasma Xenon
, qui permet l’usinage par faisceaux d’ions à grande échelle sur des dimensions de sections transversales (cross-section) allant jusqu’à 1mm, ainsi que les opérations de routine pour la préparation des échantillons.
La
FIB plasma Xe
a l’avantage de préserver la structure de l'échantillon lors de la gravure, et la nature inerte des ions xénon permet une préparation sans contamination. Ces arguments font du
FIB plasma Xe
le candidat idéal pour l'étude des matériaux sensibles comme l'aluminium ou Batteries Li-ion, sans risque de modification des propriétés microstructurales ou mécaniques.
Le
FIB Plasma
couplé aux accessoires de microanalyse intégrés tels que
l’EDS et l’EBSD,
les techniques
RAMAN et TOFSIMS
, sera l’outil fondamental pour caractériser vos matériaux à différentes échelles sous différentes approches.
TESCAN Global Marketing
Pour plus d'informations sur les possibilités de service en FIB SEM,
contactez nous
!
Ou au 04 42 52 83 13
Applications FIB SEM