FR
English
France
Toggle navigation
Votre secteur d'activité
Aérospatiale
Automobile
Microélectronique
Dispositif médical
Pharmaceutique
Cosmétique
Plasturgie/Polymères
Industrie du luxe
Vos applications
Vos matériaux
Biomatériaux
Céramiques
Couches minces
Matières premières
Métaux
Nanoparticules
Papier
Polymères
Semi-conducteurs
Textiles
Verre
Vos thématiques
Le canon clusters d’argon, une innovation pour les profils XPS des verres traités
Evaluation par XPS de l'apport d'un traitement plasma atmosphérique sur la chimie d'extrême surface
Imagerie de la composition d'un granule homéopathique par ToF-SIMS
Analyse de la rugosité de prothèses mammaires par PO3D
Identification de contaminations dans des polymères après recyclage
Morphologie 3D et propriétés mécaniques des nanoparticules
Mécanismes d‘adhésion localisés dans un assemblage
Nettoyage d'une surface contaminée avec le canon clusters d'argon du ToF-SIMS
Identification and localisation of contamination in a microelectronic component
Mesure XPS de l'homogénéité d'un traitement plasma PDMS sur des fibres de carbone
Mesure par XPS du taux de recouvrement d'un traitement cosmétique sur une peau naturelle
Caractérisation d'un polyéthylène téréphtalate par XPS
Etude de la déformation/fissuration d'un revêtement barrière sur substrat souple
Nos techniques
AFM
FIB MEB Ga ou Xe
MicroFTIR
PO3D
SEM EDX EBSD
TEM STEM EDX EELS
ToF-SIMS
Tomographie RX
XPS/ESCA
Formation
Demande de devis
R&D
Collaboration
Partenaire
Communication
A propos
Contact
Nouveautés
Evénements
Tescan
/
A propos
/
Nouveautés
/
WEBINAR en replay - Applications Plasma FIB SEM (Xe)
WEBINAR en replay - Applications Plasma FIB SEM (Xe)
juin/11/2022
Découvrez notre webinaire sur le thème de l’apport de la dernière génération des
MEB-FIB Plasma TESCAN
pour la caractérisation des matériaux à différentes échelles. Il est présenté par
Jérémie SILVENT
, Ingénieur d’application TESCAN FRANCE.
https://bit.ly/3f8v2AL
TESCAN
est un pionnier de la technologie
FIB plasma Xenon
, qui permet l’usinage par faisceaux d’ions à grande échelle sur des dimensions de sections transversales (cross-section) allant jusqu’à 1mm, ainsi que les opérations de routine pour la préparation des échantillons.
La
FIB plasma Xe
a l’avantage de préserver la structure de l'échantillon lors de la gravure, et la nature inerte des ions xénon permet une préparation sans contamination. Ces arguments font du
FIB plasma Xe
le candidat idéal pour l'étude des matériaux sensibles comme l'aluminium ou Batteries Li-ion, sans risque de modification des propriétés microstructurales ou mécaniques.
Le
FIB Plasma
couplé aux accessoires de microanalyse intégrés tels que
l’EDS et l’EBSD,
les techniques
RAMAN et TOFSIMS
, sera l’outil fondamental pour caractériser vos matériaux à différentes échelles sous différentes approches.
TESCAN Global Marketing
Pour plus d'informations sur les possibilités de service en FIB SEM,
contactez nous
!
Ou au 04 42 52 83 13
Applications FIB SEM